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DDR3 和 LPDDR3 測量和分(fēn)析

6 系列 MSO 選件 6-CMDDR3 和選件 6-DBDDR3 應用(yòng)産(chǎn)品技(jì )術資料

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6 系列 MSO 選件 6-CMDDR3 和選件 6-DBDDR3 應用(yòng)産(chǎn)品技(jì )術資料



通過 6 系列 MSO 上的 DDR3/LPDDR3 自動符合性套件（選件 6-CMDDR3）和 DDR3/LPDDR3 測量與分(fēn)析功能(néng)（選件 6-DBDDR3），更深入地了解存儲器設計。通過集成 DDR 軟件、示波器、高性能(néng)模拟和數字探頭，您可(kě)以詳細準确地測量 DDR 設計的幅度、定時和眼圖，檢驗其是否滿足聯合電(diàn)子器件工(gōng)程協會 (JEDEC) 的電(diàn)氣和定時規範。數字探頭可(kě)幫助了解 DDR 總線(xiàn)的控制信号。6 系列 MSO 中(zhōng)的 12 位模數轉換器以業内超低的噪聲提供了高度精(jīng)确的測量數據，您可(kě)以實現全新(xīn)的調試效率和測量可(kě)靠性。

主要功能(néng)

  • 按照規範完成對 DDR3 和 LPDDR3 測量的測試覆蓋範圍和全自動符合性測試，包括數據和時鍾的眼圖測試。

  • 能(néng)夠同時定義讀搜索和寫搜索，并在長(cháng)記錄長(cháng)度上對符合條件的突發執行特定的 DDR 測量。

  • 能(néng)夠按照規範為(wèi)每個測量設置電(diàn)壓阈值水平。

  • 用(yòng)于配置和執行 DDR 電(diàn)氣驗證的直觀用(yòng)戶界面和工(gōng)作(zuò)流程。

  • 輕松在示波器上從符合性測試環境切換到調試環境，以便更深入地了解測試故障。

  • 有(yǒu)選擇地在符合性測試套件内保存設置文(wén)件，從而能(néng)夠在執行後調出示波器狀态。

  • 自動生成報告，以 .MHT、.CSV 或 .PDF 文(wén)件格式保存測量數據、測試結果和波形圖像。CSV 格式可(kě)幫助根據用(yòng)戶的需求解析和自定義測試報告

    支持不同内存标準使用(yòng)的各種插補器，擁有(yǒu)同類領先的探頭，滿足信号完整性要求。

使用(yòng)選件 6-CMDDR3 完成 DDR3/LPDDR3 自動測試

選件 6-CMDDR3 解決方案讓您可(kě)以執行自動化 DDR3 和 LPDDR3 符合性測試。此解決方案與選件 6-DBDDR3 結合使用(yòng)，可(kě)添加和配置特定的測量以及在分(fēn)析後提取結果。這有(yǒu)助于用(yòng)戶避免手動保存和調出示波器設置文(wén)件。python 排序器可(kě)快速執行 100 個以上的測量，确保快速完成測試驗證。

DUT 面闆用(yòng)于選擇設備類型和設備配置文(wén)件（包括 DDR 設備支持的速度等級）以及配置 Vdd 和 Vref 設置。



6-CMDDR3 DUT 面闆

用(yòng)戶可(kě)以選擇提供與信号路徑中(zhōng)使用(yòng)的硬件組件相關的濾波器文(wén)件 (.flt)，從而使用(yòng)示波器 MATH 子系統在分(fēn)析前從采集的信号中(zhōng)去除嵌入。

DDR 信号在本質(zhì)上是突發信号。對于 DDR 測試，第一步是分(fēn)隔和限定有(yǒu)效的讀突發和寫突發。然後對這些符合條件的突發執行測量。

DUT 面闆為(wèi)用(yòng)戶提供了幾種突發檢測方法：

  1. DQ/DQS 相位校準
  2. 使用(yòng)片選信号進行 DQ/DQS 相位校準
  3. 邏輯探頭和突發脈沖延遲

根據探測機制，用(yòng)戶可(kě)以選擇信号類型設置，這有(yǒu)助于在執行期間相應地配置信号源。

通過使用(yòng)探頭模式，用(yòng)戶可(kě)以更改探頭配置。

選件 6-CMDDR3 可(kě)支持 DUT 面闆中(zhōng)的“信号調試”模式。此模式可(kě)幫助用(yòng)戶手動配置示波器設置，而不會被自動化軟件覆蓋設置。在此模式中(zhōng)，用(yòng)戶可(kě)以提供“通道”、“參考”或“MATH”作(zuò)為(wèi)軟件的輸入。

測試選擇面闆将 DDR 測量列為(wèi)邏輯組，具(jù)體(tǐ)取決于在 DUT 面闆中(zhōng)選擇的信号類型。這可(kě)幫助用(yòng)戶自動完成測量，而無需手動幹預。支持對數據和時鍾信号的眼圖測試，這超出了合格性要求，使用(yòng)戶可(kě)以更深入地了解存儲器設計。



運行 DDR3 時鍾眼圖的 6-CMDDR3

執行完成後，軟件會生成詳細的測試報告，其中(zhōng)包含設置信息、測試摘要和詳細結果，包括通過失敗狀态、限制和測試特定圖像。



含有(yǒu) DDR3 眼圖測試結果的 6-CMDDR3 報告文(wén)件

為(wèi)了調試測試錯誤，泰克提供已集成在示波器測量子系統中(zhōng)的 6-DBDDR3 測量包，幫助用(yòng)戶輕松配置和測試其存儲器設計。

使用(yòng)選件 6-DBDDR3 進行 DDR3 調試

選件 6-DBDDR3 可(kě)以捕獲長(cháng)記錄，根據選擇的測量自動分(fēn)隔讀突發和寫突發，在多(duō)個讀突發或寫突發上執行測量。您可(kě)以定義多(duō)個讀和寫搜索、對符合條件的搜索持續運行 DDR3/LPDDR3 測量，并對結果執行統計分(fēn)析。

在執行 DDR3 電(diàn)測試和定時分(fēn)析時，6 系列 MSO 示波器必須具(jù)有(yǒu)推薦的 8 GHz 帶寬，以便涵蓋整個 DDR3 速度等級範圍。但是，對于信号完整性測試和調試，最低 4 GHz 的帶寬就足以滿足大多(duō)數用(yòng)戶的需求。



僅需點擊屏幕兩次，即可(kě)打開 DDR 測量菜單。

自動檢測讀寫突發

某些 JEDEC 符合性測量要求隔離内存總線(xiàn)上的關心事件（例如讀突發或寫突發），符合性解決方案會自動進行此處理(lǐ)。

為(wèi)進行調試，可(kě)能(néng)需要按特定的秩或列隔離特定事件，或隔離特定數據碼型，以分(fēn)析信号完整性問題，比如數據相關抖動、定時或噪聲問題。實現這一目标的最簡單的方式，是使用(yòng) DQS（Data Strobe 信号），識别讀突發或寫突發的開頭。例如，DDR3 在寫開頭一直聲稱 DQS 為(wèi)高，或在讀開頭聲稱 DQS 為(wèi)低。

通過 6 系列 MSO 示波器上的可(kě)視觸發功能(néng)，您可(kě)以進一步調節傳統觸發，實現更加多(duō)樣化的 DQS 突發捕獲功能(néng)。通過可(kě)視觸發，您可(kě)以在波形畫面上直接創建類似模闆的區(qū)域，區(qū)域邊界可(kě)以幫助您為(wèi) DQS 或 Data Strobe 信号定義觸發事件。



可(kě)視觸發功能(néng)讓您可(kě)以添加标準區(qū)域或用(yòng)戶指定區(qū)域，在特定觸發條件下觸發 DDR3 波形。



使用(yòng)選件 6-DJA 測量和可(kě)視觸發調節源波形得到 DDR3 信号的眼圖。

化繁為(wèi)簡

每種内存技(jì )術的 JEDEC 規範都包含大量的合規測量，如時鍾抖動、建立時間和保持時間、跳變電(diàn)壓、信号過沖和下沖、轉換速率及其他(tā)電(diàn)質(zhì)量測試。如果使用(yòng)通用(yòng)工(gōng)具(jù)，那麽這些指标測量起來會非常複雜。

由于 JEDEC 規定的測量方法要求基準電(diàn)平、通過/失敗極限等，因此擁有(yǒu) DDR 測試使用(yòng)的專用(yòng)測量工(gōng)具(jù)就有(yǒu)了異常重要的意義。選件 6-CMDDR3 旨在針對指定器件正确設置 DDR 測量。6-CMDDR3 提供了大量的測量，符合 JEDEC 規範。您也可(kě)以利用(yòng)選件 6-DBDDR3 來量身定制設置，測量非标準器件或系統實現方案。

選件 6-CMDDR3 與選件 6-DJA（高級抖動分(fēn)析）配套使用(yòng)時，提供了抖動和眼圖分(fēn)析工(gōng)具(jù)。這兩種模塊相結合，為(wèi) DDR 測試和調試提供了強大、靈活、簡便易用(yòng)的測試套件。

DDR 搜索功能(néng)

DDR 搜索功能(néng)可(kě)以在整個波形采集中(zhōng)搜索特定信号條件（比如 DDR 讀/寫），并在滿足條件的位置标記波形。除将标記用(yòng)于進行可(kě)視分(fēn)析外，示波器還可(kě)以将這些标記用(yòng)作(zuò) DDR 特定測量的限定符，這樣就隻會在數據流的相應位置進行測量。搜索程序中(zhōng)的搜索算法利用(yòng)以下事實因素：ddr 相位關系對于 DDR 讀取和寫入搜索是不同的、DQ 和 DQS 對于讀取是同相而對于寫入是 90 度異相。它還支持基于片選 (CS) 信号和數字信号（片選 (CS)、行訪問選通 (RAS)、列訪問選通 (CAS) 和“寫啓用(yòng)”源 (WE)）的突發脈沖識别。

用(yòng)于調試故障的步驟

内存調試過程中(zhōng)的第一步是定義搜索。這可(kě)以通過單擊示波器上的“搜索”按鈕并對讀突發脈沖或寫突發脈沖定義 DDR 搜索來實現。下一步是從 DDR 選項卡添加測量，并配置這些測量。此配置過程涉及提供搜索以作(zuò)為(wèi)測量的輸入，以及定義信号源。由于要配置衆多(duō)測量，所以我們建議手動配置一次測量 ，并保存示波器設置文(wén)件。當您下次想要調試時，可(kě)以很(hěn)容易地調出波器設置文(wén)件，這将恢複示波器的所有(yǒu)已配置測量，并可(kě)根據需要進行編輯。

在設置完成并選擇 <Run>（或 <Single>）後，示波器會采集關心的信号、識别和标記符合條件的數據突發，并更新(xīn)所選測量的結果。

随 6-DBDDR3 套件提供的出廠設置文(wén)件基于行業标準測量設置構建，因此如果您的測試設置與默認設置文(wén)件不同，那麽您可(kě)能(néng)需要修改一次設置并保存這些設置。

您可(kě)以單擊示波器屏幕上的“結果表”按鈕，以表格形式查看結果。結果表顯示所有(yǒu)測量結果及其統計總量、來源和其他(tā)相關數據。您可(kě)以生成報告，有(yǒu)一個選項是保存進行這些測量時使用(yòng)的波形數據。



詳細的結果顯示 DDR3 信号判定合格的突發。



詳細的測試報告及設置細節、測量結果和波形圖像。

DDR3主内存插補器

接入内存芯片上的信号測試點，在DDR測試中(zhōng)是一個重大挑戰。JEDEC标準要求應在内存元件的球栅陣列(BGA)栅球輸出上進行測量，而這些連接很(hěn)難接入。

泰克與Nexus Technology1合作(zuò)，提供多(duō)種探測選項，如BGA插補器，其支持各種外形的不同内存器件。插補器包括一個嵌入式尖端電(diàn)阻器，這個電(diàn)阻器位于BGA焊盤附近。DDR3主内存以标準BGA元件封裝(zhuāng)及DIMM和SODIMM雙列直插模塊方式提供。

标準BGA封裝(zhuāng)直接焊接到印刷電(diàn)路闆(PCB)上，而雙列直插模塊則包括标準PCB格式的一系列封裝(zhuāng)，DIMM和主電(diàn)路闆之間采用(yòng)标準連接。插補器既可(kě)用(yòng)于元件封裝(zhuāng)，也可(kě)用(yòng)于DIMM和SODIMM模塊。

引入插補器和示波器探頭可(kě)能(néng)會改變信号特點。使用(yòng)反嵌濾波器可(kě)以消除插補器和探頭在信号路徑中(zhōng)的影響，精(jīng)确表示探測點上的信号。

1如需詳細的插補器列表，敬請訪問：http://www.nexustechnology.com

EdgeProbe插補器

Nexus Technology的EdgeProbe™插補器适用(yòng)于DDR3、LPDDR3和其他(tā)新(xīn)内存産(chǎn)品。它的機械空間很(hěn)小(xiǎo)，因為(wèi)探測點在插補器的邊緣。頭可(kě)以直接連接目标器件，接入時鍾信号、命令總線(xiàn)信号、選通信号和地址信号。

EdgeProbe設計消除了機械間隙問題，因為(wèi)插補器的尺寸與内存元件相當。過在所有(yǒu)信号上提供集成示波器探頭，插補器内部的嵌入式電(diàn)阻器把示波器探頭尖端電(diàn)阻器的位置放得距BGA焊盤非常近。



EdgeProbe插補器

帶插座的插補器

帶插座的插補器一般可(kě)以接入所有(yǒu)元件信号，把插補器擡高到相鄰元件上方，獲得機械間隙。這種解決方案提供了一個定制插座，插座安(ān)裝(zhuāng)在目标器件上；另外還有(yǒu)一個插補器，安(ān)裝(zhuāng)方式是把插補器按到插座中(zhōng)。解決方案中(zhōng)設計有(yǒu)固定機制，從目标插座上拉下沒有(yǒu)固定的插補器，即可(kě)拔出插補器。

以把内存元件直接焊到插補器上，也可(kě)以在插補器上有(yǒu)一個插座。插補器上的插座允許手動插拔内存元件，簡便地評估不同廠商(shāng)的内存元件。在測試結束時，可(kě)以拔下插補器，然後把内存器件直接插到目标器件的定制插座中(zhōng)，從而消除插補器的影響。

直接附着插補器

直接附着插補器可(kě)以探測所有(yǒu)信号，直接安(ān)裝(zhuāng)到目标器件上。目标器件必須為(wèi)插補器留出機械間隙。直接附着插補器通常用(yòng)于綜合封裝(zhuāng)(PoP)元件。



直接附着插補器

技(jì )術 封裝(zhuāng)/外形
DDR3 帶插座 – 78 球 / 96 球
Edge Probe – 78 球 / 96 球
焊接 – 78 球 / 96 球
MSO使用(yòng)的DIMM和SODIMM插補器
LPDDR3 帶插座的 – 216 球 / 211 球
焊接 – 178 球 / 211 球

用(yòng)于 DDR3 測量的 TDP7700 系列 TriMode 探頭

泰克TDP7700系列TriMode探頭旨在解決DDR3測量挑戰。TDP7700與6系列MSO一起使用(yòng)，支持對探頭和尖端的信号路徑進行全面AC校準，為(wèi)實時示波器提供了出色的探頭保證度。創新(xīn)的新(xīn)型探頭設計采用(yòng)SiGe技(jì )術，提供了當今及未來所需的帶寬和保真度。

TriMode探測可(kě)以在一個探頭設置中(zhōng)同時準确地進行差分(fēn)測量、單端測量和共模測量，提高測試效率。由于這種獨特的功能(néng)，您可(kě)以在示波器上，在差分(fēn)測量、單端測量和共模測量之間切換，而不用(yòng)移動探頭的連接點。

TDP7700在連接方面有(yǒu)一項關鍵創新(xīn)，是使用(yòng)焊接探頭尖端，探頭的輸入緩沖器距尖端隻有(yǒu)幾毫米的距離。這種方法可(kě)以異常簡便地連接DDR3電(diàn)路。



TDP7708探頭擁有(yǒu)高阻抗輸入和TriMode功能(néng)，減少了進行DDR3測量所需的探頭數量。

其他(tā)TDP7700系列探頭特點包括：

  • 20 GHz以下傑出的步進響應，低插入損耗
  • 低DUT負載，100 kΩ (DC)和0.4 pF (AC)性能(néng)
  • 高共模抑制比(CMRR)
  • 低噪聲

用(yòng)于數字測量的 TLP058 FlexChannel®邏輯探頭

6 系列 MSO 提供數字通道功能(néng)，可(kě)對整個内存總線(xiàn)執行完整的協議分(fēn)析。TLP058 FlexChannel® 邏輯探頭将泰克 6 系列 MSO 連接到被測設備 (DUT) 上的數字總線(xiàn)和信号。該探頭包含 8 個數據通道，并将 TLP058 邏輯探頭連接到任何 FlexChannel 示波器輸入通道。



TLP058 提供高性能(néng)數字輸入。



配置使用(yòng) TLP058 探頭進行的 DDR3 數字測量。

技(jì )術數據

  • 定時測量
    • tRPRE 測量讀突發前置碼的寬度，它從退出三态到差分(fēn)選通第一個驅動邊沿測得。
    • tWPRE 測量寫突發前置碼的寬度，它從退出三态到差分(fēn)選通第一個驅動邊沿測得。
    • tPST 測量讀或寫突發後置碼的寬度。它從越過中(zhōng)間基準電(diàn)平的最後上升沿到沒有(yǒu)驅動的狀态開頭(根據JEDEC規範由上升趨勢測量)測得。
    • Hold Diff 測量單端波形指定邊沿到差分(fēn)波形指定邊沿經過的時間。這個指标使用(yòng)距落在量程極限範圍内的差分(fēn)波形邊沿最近的單端波形邊沿。
    • Setup Diff 測量單端波形指定邊沿與差分(fēn)波形越過自己的電(diàn)壓基準電(diàn)平時經過的時間。這個指标使用(yòng)距落在量程極限範圍内的差分(fēn)波形邊沿最近的單端波形邊沿。
    • tCH(avg) 測量滑動的200個連續高脈沖周期窗口中(zhōng)計算得出的平均高脈寬。
    • tCK(avg) 測量滑動的200個周期窗口中(zhōng)的平均時鍾周期。
    • tCL(avg) 測量滑動的200個連續低脈沖周期窗口中(zhōng)計算得出的平均低脈寬。
    • tCH(abs) 測量差分(fēn)時鍾信号的高脈寬。這個指标是波形一直高于中(zhōng)間基準電(diàn)壓電(diàn)平的總時間。
    • tCL(abs) 測量差分(fēn)時鍾信号的低脈寬。這個指标是波形一直低于中(zhōng)間基準電(diàn)壓電(diàn)平的總時間。
    • tJIT(duty) 測量tCH和tCH(avg)或tCL和tCL(avg)在200個周期窗口内經過的最大時間。
    • tJIT(per) 測量tCK和tCK(avg) 在200個周期窗口内經過的最大時間。
    • tJIT(cc) 測量兩個連續時鍾周期之間的絕對時鍾周期差。
    • tERR(n) 測量從tCK(avg)開始多(duō)個連續周期中(zhōng)的累積誤差。這個指标是200個周期窗口的時鍾周期和與n x tCK(avg)的時間差。
    • tERR(m-n) 測量從tCK(avg)開始多(duō)個連續周期中(zhōng)的累積誤差。這個指标是200個周期窗口的時鍾周期和與n x tCK(avg)的時間差。
    • tDQSCK 測量差分(fēn)時鍾的選通輸出接入時間。它在差分(fēn)選通Read前置碼時間前或後的時鍾上升沿之間測得。邊沿位置由中(zhōng)間參考電(diàn)壓電(diàn)平确定。
    • tCMD-CMD 測量在兩個邏輯狀态之間經過的時間。
    • tCKSRE 測量在“自刷新(xīn)進入”(SRE) 命令後所需的有(yǒu)效時鍾周期。隻有(yǒu)在已注冊 SRE 命令的情況下，才能(néng)在 tCKSRE 時間後更改輸入時鍾頻率或電(diàn)源電(diàn)壓。
    • tCKSRX 測量在 (SRX) 命令前所需的有(yǒu)效時鍾周期。如果新(xīn)的時鍾頻率或電(diàn)源電(diàn)壓在 SRX 命令前的 tCKSRX 時間内保持穩定，則允許更改輸入時鍾頻率或電(diàn)源電(diàn)壓。
  • 幅度測量
    • AOS 測量超出指定基準電(diàn)平的信号的總面積。
    • AUS 測量低于指定基準電(diàn)平的信号的總面積。
    • Vix(ac) 測量差分(fēn)輸入交點電(diàn)壓，其從實際交叉電(diàn)壓及指定基準電(diàn)平互補信号中(zhōng)測得。這個指标在單端信号上測量。
    • AOS Per tCK AOS Per tCK 測量連續周期上計算的越過指定基準電(diàn)平的信号的總面積。這個指标僅适用(yòng)于時鍾和地址/命令波形。
    • AUS Per tCK 測量連續周期上計算的越過指定基準電(diàn)平的信号的總面積。這個指标僅适用(yòng)于時鍾和地址/命令波形。
    • AOS Per UI 測量連續單位間隔上計算的越過指定基準電(diàn)平的信号的總面積。這個指标僅适用(yòng)于數據和數據選通波形。
    • AUS Per UI 測量連續單位間隔上計算的越過指定基準電(diàn)平的信号的總面積。它僅适用(yòng)于數據和數據選通波形。
更多(duō)詳細信息
細節 DDR3 LPDDR3
速度(MT/s) 800, 1066, 1333, 1600, 1866,和2133 333, 800, 1066, 1200, 1333, 1466, 1600, 1866和2133
最大轉換 10 V/ns 8 V/ns
典型電(diàn)壓擺幅 1 V 0.6 V
20-80上升時間 60 ps 45 ps
報告 HTML和PDF格式
源支持 實時模拟信号，基準波形，數學(xué)波形
反嵌支持 使用(yòng)數學(xué)子系統的濾波文(wén)件

訂貨信息

要求的硬件
示波器 6 系列 MSO 示波器具(jù)有(yǒu)最低 4 GHz 的調試帶寬 (6-BW-4000)。對于 DDR3/LPDDR3 自動符合性測試，推薦的帶寬為(wèi) 8 GHz (6-BW-8000)。
操作(zuò)系統 6-WIN（可(kě)拆卸固态硬盤，裝(zhuāng)有(yǒu) Microsoft Windows 10 操作(zuò)系統）。
可(kě)選 - 僅在進行 DDR3/LPDDR3 自動符合性測試時是必需的
要求的軟件
應用(yòng) 選項 許可(kě)證類型
适合 6 系列 MSO 的 DDR3 和 LPDDR3 自動符合性解決方案 1 6-CMDDR3 新(xīn)儀器許可(kě)
SUP6-CMDDR3 升級許可(kě)
SUP6-CMDDR3-FL 浮動許可(kě) 2
适合 6 系列 MSO 的 DDR3 和 LPDDR3 分(fēn)析與調試解決方案 3 6-DBDDR3 新(xīn)儀器許可(kě)
SUP6-DBDDR3 升級許可(kě)
SUP6-DBDDR3-FL 浮動許可(kě) 2

1适合 6 系列 MSO 的 DDR3 和 LPDDR3 自動符合性解決方案需要 6-DBDDR3 和 6-DJA 作(zuò)為(wèi)運行 DDR 和眼圖測量的前提條件。

2浮動許可(kě)可(kě)以從任何一台 6 系列 MSO 轉移到任何其他(tā) 6 系列 MSO 上，一次使用(yòng)一台儀器。

3有(yǒu)關 DDR 分(fēn)析的附加信息請參見：https://www.tek.com/ddr-test-validation-and-debug。

推薦的探頭和附件
推薦探頭
附件類型 數量
TDP7708 三模式探頭，帶有(yǒu) P77STFLXB 轉接頭 測試帶有(yǒu) DQ 和 DQS 的 DUT 時需要兩個探頭。
測試帶有(yǒu) DQ、DQS 和時鍾的 DUT 時需要三個探頭。
TLP058 探測 CS、RAS、CAS 和 WE 行時需要一個探頭。
TDP3500 需要為(wèi)作(zuò)為(wèi)模拟信号的 CS 提供一個探頭。
推薦的測試夾具(jù)
附件類型 廠商(shāng)
DDR3：4 個、8 個、16 個帶插座、焊接和直接連接插補器 通過泰克和 Nexus Technologies 銷售 1
LPDDR3：BGA 和 PoP 插補器

1詳情請咨詢當地泰克代表。

  		•  泰克經過 SRI 質(zhì)量體(tǐ)系認證機構進行的 ISO 9001 和 ISO 14001 質(zhì)量認證。
    		産(chǎn)品符合 IEEE 标配 488.1-1987、RS-232-C 及泰克标配規定和規格。

    接受評估的産(chǎn)品領域： 電(diàn)子測試和測量儀器的規劃、設計/開發和制造。


    55W-61470-2