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如何為(wèi)成功進行EMI和EMC測試做準備

進行傳導及輻射的雜散測試

您是否知道50%的項目未能(néng)通過首次EMI/EMC測試?Intertek Testing Services報告指出,由于未能(néng)應用(yòng)EMC原則,缺乏EMC/EMI知識,錯誤應用(yòng)EMC規定,無法預測電(diàn)路元件之間的相互作(zuò)用(yòng),或在最終産(chǎn)品中(zhōng)使用(yòng)了不合規的模塊或組件,約有(yǒu)一半的産(chǎn)品未能(néng)通過首次EMC測試。

進行預一緻性測試,可(kě)大大提高首次通過全面EMI一緻性測試的概率,幫助您節省大量時間和資金。從事醫(yī)療、汽車(chē)、軍事甚至多(duō)媒體(tǐ)應用(yòng)産(chǎn)品設計的公(gōng)司可(kě)通過投資預一緻性測試設置來獲益。本頁(yè)讨論在産(chǎn)品開發流程中(zhōng)添加預一緻性測試可(kě)如何加速産(chǎn)品開發并降低項目成本。進一步了解EMC/EMI測試的基礎知識。

下載泰克完整《電(diàn)源設計及測試方法》手冊,深入了解電(diàn)源測試各個階段

全面的EMI/EMC預一緻性測試解決方案

泰克提供全面的EMI/EMC預一緻性測試解決方案,包括軟件、頻譜分(fēn)析儀、附件和EMC近場探頭,以經濟實惠的方式加快您的工(gōng)作(zuò)。

EMC軟件

首先,泰克EMI/EMC預一緻性解決方案包含帶EMCVu軟件的SignalVu-PC。作(zuò)為(wèi)SignalVu-PC的插件,EMCVu提供的單一用(yòng)戶界面可(kě)滿足您所有(yǒu)預一緻性需求。

頻譜分(fēn)析儀

為(wèi)了提供快速、準确的測量結果,以幫助您快速找到EMI/EMC問題,泰克提供經濟實惠的全系列實時頻譜分(fēn)析儀。與傳統掃頻式頻譜分(fēn)析儀相比,實時頻譜分(fēn)析儀具(jù)有(yǒu)顯著優勢,使您捕獲不常見的EMI脈沖串。

下載EMI/EMC測試表

預一緻性測試帶來的好處

當您正在努力将新(xīn)設計快速推向市場時,您最不希望的就是在設計周期結束時因一緻性測試失敗而耽誤時間。将預一緻性解決方案納入工(gōng)作(zuò)流程可(kě)為(wèi)您帶來諸多(duō)益處:

  • 及早發現可(kě)能(néng)會延遲産(chǎn)品上市和增加開發成本的潛在 EMI/EMC問題
  • 降低 EMI/EMC相關成本
  • 在将産(chǎn)品提交給測試機構前提升自己對産(chǎn)品的信心
  • 即時提供關于設計變更的影響的反饋
  • 根據您的計劃靈活地測試

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如果在設計初期階段即引入出色的EMC設計技(jì )術,将不難實現這些好處。 但是,如果要在設計後期進行修改以滿足EMC要求,則十分(fēn)困難。

解秘EMI/EMC測試設置

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通過泰克RSA500 USB頻譜分(fēn)析儀進行典型輻射測試設置。

EMI/EMC預一緻性測試并不一定會困難重重或費時費力。根據客戶反饋,泰克開發了易于使用(yòng)且功能(néng)強大的下一代軟件,提供針對輻射測量和傳導測量的預一緻性測試。

設置EMI/EMC預一緻性測試從 SignalVu-PC 開始。此最新(xīn)版本的SignalVu-PC現已附帶名(míng)為(wèi) EMCVu 的附加選件。EMCVu帶有(yǒu)易于使用(yòng)的設置向導、各種内置的标準和附件設置以及按鈕選擇功能(néng)。無論您是要設置露天測試場地 (OATS),還是在實驗室中(zhōng)進行測試,EMCVu都可(kě)以簡化您在測量中(zhōng)捕獲和去除環境噪聲的過程,從而提高預一緻性測試的準确性,而無需使用(yòng)消聲室。

欲進一步了解如何使用(yòng)EMCVu、實時頻譜分(fēn)析儀及附件針對輻射雜散和傳導雜散進行預一緻性測試,請在此處下載應用(yòng)說明。

如果您有(yǒu)興趣免費試用(yòng)EMCVu 30天,請單擊以下按鈕。

下載 30 天試用(yòng)版

泰克 EMI/EMC 預一緻性解決方案所支持的标準

EMCVu預一緻性測試軟件支持多(duō)種設備的EMC标準,包括CISPR、FCC和MIL-STD。為(wèi)了支持自動測試,EMCVu提供一個内置的标準表格,以便您為(wèi)自己的産(chǎn)品及其銷售地區(qū)選擇相應标準。EMCVu還允許您配置未包括在内的标準,并針對您選擇的标準設置頻率範圍或限制表。

下面是對支持的标準的簡要概述:

細分(fēn)市場 設備類型 标準
IEC/CISPR CENELEC/EN FCC MIL-STD DEF-STAN
工(gōng)業、科(kē)學(xué)和醫(yī)療 工(gōng)業、科(kē)學(xué)和醫(yī)療設備 CISPR 11 EN 55011 CFR Title 47 Part 18    
醫(yī)療電(diàn)氣設備 EN 60601-1-2
汽車(chē) 車(chē)輛、船舶和内燃機 CISPR 12 EN 55012 CFR Title 47 Part 15(*)    
車(chē)載器件和模塊 CISPR 25 EN 55025      
多(duō)媒體(tǐ) 聲音和電(diàn)視廣播接收機 CISPR 13 EN 55013 CFR Title 47 Part 15    
信息技(jì )術和電(diàn)信設備(ITE) CISPR 22(由 EN55032 取代) EN 55022(由 EN55032 取代)
專業音頻/視頻/多(duō)媒體(tǐ)設備 CISPR 32(取代 CISPR 13 和 22) EN 55032
電(diàn)氣設備 電(diàn)子設備、家用(yòng)電(diàn)器和工(gōng)具(jù) CISPR 14-1 EN 55014-1 CFR Title 47 Part 15    
照明設備 熒光燈和燈具(jù) CISPR 15 EN 55015 CFR Title 47 Part 15    
軍事 軍事裝(zhuāng)備和系統       MIL-STD-461G DEF-STAN 59-411

加快調試工(gōng)作(zuò)的故障排除技(jì )巧

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在投入時間和資金進行最終産(chǎn)品認證測試前,您需要确信自己的設備已準備好送交測試機構。遇到問題時,您需要合适工(gōng)具(jù)以快速聚焦問題區(qū)域,找出原因并采取補救措施,而不産(chǎn)生代價高昂的延誤。

要高效地調試,需尋找一種解決方案,讓您能(néng)夠快速确定問題所在,并提供能(néng)捕獲間歇違規情況的信号洞察。這是通過硬件和軟件的組合來實現的。

軟件解決方案中(zhōng)可(kě)具(jù)備如下功能(néng):

  • 準峰值檢波器,可(kě)讓您繞過非故障問題并聚焦所需頻率。
  • 諧波檢查,可(kě)讓您隻測試特定的諧波,并使用(yòng)近場探頭查找電(diàn)路闆上的雜散來源。
  • 諧波标記,可(kě)查找已知頻率諧波的雜散。
  • 多(duō)重跟蹤,允許您将被測設施(DUT)與環境噪聲、設備的先前叠代等進行比較。
  • 自動或手動執行多(duō)故障重新(xīn)測量,使您可(kě)以确定故障是間歇還是重複出現。
  • 在可(kě)由用(yòng)戶配置的同一個報告中(zhōng)以多(duō)種格式報告多(duō)個測量結果。

在硬件方面,實時頻譜分(fēn)析儀使EMI調試變得更加容易。它的優勢包括

  • 能(néng)夠捕獲瞬态和間歇信号。
  • 能(néng)夠以相同頻率調試多(duō)個信号源。
  • 瞬時反饋——傳統的掃頻式頻譜分(fēn)析儀可(kě)能(néng)需要更長(cháng)的掃描時間,導緻無法捕獲重要信号。

有(yǒu)若想進一步了解如何使用(yòng)我們的實時頻譜分(fēn)析儀進行雜散預一緻性測試,請訪問我們的博客。有(yǒu)關故障排除技(jì )術的更多(duō)信息,請參閱“實用(yòng)EMI故障排除”應用(yòng)說明,點擊下方按鈕下載此應用(yòng)說明。

下載應用(yòng)說明

使用(yòng)混合域示波器排除EMI故障

EMI spectrum from near field probe with correlated signal waveform

要根除導緻EMI問題的輻射雜散源,關鍵是要确定雜散的構成。其次,還必須确定雜散源和耦合機制。使用(yòng)帶頻譜視圖的混合域示波器,如4、5或6系列 MSO,可(kě)以同步顯示頻譜和時域波形,從而快速識别問題的根源

  • 任何模拟通道都可(kě)顯示波形或頻譜或同時顯示兩者
  • 繪制并觸發射頻頻率或幅度的變化
  • 頻譜和時域波形同步,以關聯射頻和時域事件,從而更快地找出根本原因
  • 中(zhōng)心頻率和分(fēn)辨帶寬等頻譜控制因素獨立于時域控制,可(kě)優化頻譜和波形顯示

常見問題 (FAQ)

什麽是EMI?

電(diàn)磁幹擾 (EMI) 有(yǒu)時也稱為(wèi)射頻幹擾 (RFI),是指電(diàn)磁能(néng)幹擾了電(diàn)子設備的運行。EMI的來源可(kě)能(néng)是人為(wèi)的,如開關電(diàn)源、個人電(diàn)腦等其他(tā)電(diàn)氣設備,也可(kě)能(néng)是自然産(chǎn)生的,如雷暴、太陽輻射,甚至宇宙噪音。

什麽是EMC?

電(diàn)磁兼容性 (EMC) 是指設備有(yǒu)能(néng)力在有(yǒu)其他(tā)電(diàn)氣設備或電(diàn)磁幹擾源的環境中(zhōng)按預期運行而不影響其他(tā)設備。當設備對電(diàn)磁環境的影響不會大到對其他(tā)設備和系統造成負面影響時,該設備即符合EMC标準。

什麽是EMI和EMC測試?

為(wèi)确保符合EMI和EMC國(guó)内和國(guó)際規則,許多(duō)公(gōng)司都會聘請專業測試機構提供服務(wù)。這些測試費用(yòng)高昂(即使産(chǎn)品不合格),所以一些公(gōng)司也會在内部進行EMC預一緻性測試。如果有(yǒu)足夠先進的實驗室,公(gōng)司也可(kě)以在内部進行EMC一緻性測試。

什麽是EMI預一緻性測試?

EMI(電(diàn)磁幹擾)預一緻性測試是對電(diàn)子裝(zhuāng)置或設備進行的一系列測試和測量,以評估其電(diàn)磁雜散,然後再進行正式的一緻性測試來獲得合規認證。EMI預一緻性測試主要為(wèi)了在産(chǎn)品開發周期早期識别和解決潛在的電(diàn)磁幹擾問題,幫助制造商(shāng)确保其産(chǎn)品符合電(diàn)磁兼容性 (EMC) 标準和法規要求。

EMC測試有(yǒu)哪些類型?

當電(diàn)子産(chǎn)品提交給EMC測試實驗室後,這些實驗室會進行多(duō)種類型的EMC測試。一般來說,EMC測試分(fēn)為(wèi)兩類:抗擾度測試和雜散測試。

抗擾度測試

抗擾度測試是向被測設施(也稱為(wèi)被測設備)發射射頻能(néng)量的過程,以确定被測設施/被測設備在這種環境下是否能(néng)正常工(gōng)作(zuò)。

雜散測試

雜散測試是測量被測設施/被測設備的射頻雜散(輻射和傳導)的過程,以确定其雜散水平是否超過相應标準規定的限值。雜散測試包括輻射雜散和傳導雜散測試。

  • 輻射雜散:輻射雜散是指電(diàn)子設備有(yǒu)意或無意釋放的電(diàn)磁能(néng)量。進行輻射測試是為(wèi)了确保被測設備發出的能(néng)量不超過相應的限值。
  • 傳導雜散傳導雜散是指從設備到電(diàn)源線(xiàn)的電(diàn)磁能(néng)耦合。與輻射雜散一樣,電(diàn)子設備發出的傳導雜散也受到不同監管機構的監管,因此要進行測試以确保設備發出的能(néng)量不超過相應的限值。

EMC測試實驗室有(yǒu)哪些類型?

電(diàn)子産(chǎn)品提交給EMC測試實驗室後,這些實驗室會進行多(duō)種類型的EMC測試。一般來說,EMC測試分(fēn)為(wèi)兩類:抗擾度測試和雜散測試。在生産(chǎn)設備之前,通常會在場外進行EMC測試。露天測試場 (OATS) 是大多(duō)數标準使用(yòng)的參考場。它們尤其适用(yòng)于大型設備系統的雜散測試。不過,物(wù)理(lǐ)原型的射頻測試通常在室内的專用(yòng)消聲室中(zhōng)進行。消聲室、混響室和千兆赫橫電(diàn)磁波室(GTEM室)都屬于此類。

EMC測試流程和平均通過率是多(duō)少?

在不考慮預一緻性測試的情況下,約50%的産(chǎn)品能(néng)首次就通過EMC一緻性測試,因此了解設備的測試流程和标準有(yǒu)助于提升成功幾率。

  1. 了解标準:在不同的EMC标準中(zhōng),測試流程與輻射和傳導雜散的限值各不相同。這些标準因國(guó)家和被測設備的類型而異。測試的第一步是确定您的産(chǎn)品适用(yòng)于哪些标準,并研究對應标準的測試程序和限值。
  2. 進行EMC預一緻性測試:EMC一緻性測試可(kě)能(néng)最多(duō)需要兩周才能(néng)完成——這還不包括将産(chǎn)品送入測試隊列所需的時間,而且每次提交測試的成本可(kě)能(néng)高達 20,000美元。EMC一緻性測試失敗可(kě)能(néng)導緻昂貴的重新(xīn)設計和産(chǎn)品上市延遲。而且,由于近50%的産(chǎn)品在首次EMC一緻性測試前沒有(yǒu)考慮到預一緻性測試,因此您很(hěn)可(kě)能(néng)需要重複前往測試機構,從而使成本成倍增加。
  3. 找到EMC測試實驗室:産(chǎn)品以足夠的優勢通過通過預一緻性測試後,需要由EMC測試實驗室進行正式認證。有(yǒu)資質(zhì)的實驗室是進行EMC測試的上佳選擇,我們建議您選擇有(yǒu)資質(zhì)的實驗室,盡管這并非必須,從而确保您的設備順利上市。不過,在某些情況下需要經FCC認證實驗室的認證,包括需要進行認證授權流程的設備。

進行EMI和EMC測試需要什麽産(chǎn)品?

EMC預一緻性測試的目的是在可(kě)接受範圍内模拟一緻性測試的設置,以發現潛在問題,并在昂貴的一緻性測試之前降低失敗風險。EMC預一緻性測試通常需要:

  • 帶準峰值檢波器的頻譜分(fēn)析儀
  • 前置放大器(可(kě)選)
  • 帶非金屬支架的天線(xiàn),用(yòng)于測輻射雜散
  • 用(yòng)于傳導雜散測試的線(xiàn)路阻抗穩定網絡 (LISN)
  • 用(yòng)于傳導雜散測試的功率限制器
  • 用(yòng)于診斷的EMC近場探頭(可(kě)選)
  • 具(jù)有(yǒu)頻率和時間相關功能(néng)的示波器,用(yòng)于協助調試(可(kě)選)
  • EMC測試軟件

如何設置EMC預一緻性測試實驗室?

在選擇測試地點時,農村地區(qū)、會議室和地下室都是不錯的選擇,因為(wèi)它們可(kě)以最大限度地減少可(kě)能(néng)削弱被測設備發出能(néng)量的外部信号。若想提高測試準确度,還需注意:有(yǒu)一個良好的地平面并減少測試區(qū)域周圍反射體(tǐ)的數量。

如何通過EMC一緻性測試?

EMC預一緻性測試是确保産(chǎn)品首次通過EMC測試的快速經濟方法。在早期開發階段,為(wèi)EMC而設計的技(jì )術與診斷法相結合,可(kě)制造出對外部和内部幹擾敏感性低的産(chǎn)品。在開發周期的後期,預一緻性測試可(kě)用(yòng)于發現一緻性問題,并提高首次成功通過全面EMC一緻性測試的概率。

EMC預一緻性測試的其他(tā)好處還包括:

  1. 及早發現錯誤,解決潛在問題
  2. 降低測試和設計成本
  3. 項目更加敏捷
  4. 降低失敗風險,确保一緻性
  5. 解決設計和工(gōng)程過度和不足的問題