半導體(tǐ)設計和制造 – 泰克半導體(tǐ)測試方案

泰克及旗下吉時利品牌，提供從晶元到系統的專業半導體(tǐ)測試方案。包括半導體(tǐ)材料測試平台、半導體(tǐ)工(gōng)藝測試平台、芯片設計測試平台、芯片驗證測試平台等。

• 半導體(tǐ)材料測試平台包括：

  針對晶元級半導體(tǐ)材料或半導體(tǐ)器件，泰克提供半導體(tǐ)參數分(fēn)析儀（4200A-SCS），用(yòng)于測試分(fēn)離器件、材料的三大特性：1、直流特性，如IV曲線(xiàn)、IT曲線(xiàn)、VT曲線(xiàn)、RT曲線(xiàn)等； 2、電(diàn)容電(diàn)壓特性CV曲線(xiàn)（CVU）；3脈沖特性測試(PMU)，支持超高速脈沖測試。支持以上特性的多(duō)通道同步測試。

  針對高功率半導體(tǐ)材料或半導體(tǐ)器件，泰克提供高功率晶體(tǐ)管參數曲線(xiàn)圖示儀（2600B-PCT），或稱晶體(tǐ)管曲線(xiàn)追蹤儀，支持高壓、高流等條件下直流特性IV曲線(xiàn)、電(diàn)容電(diàn)壓特性CV曲線(xiàn)測試。

• 半導體(tǐ)工(gōng)藝測試平台包括：

  針對大規模測試，如晶元上多(duō)點測試，複雜系統的自動化測試，泰克提供自動化半導體(tǐ)參數測試系統（S500/S530/S540），支持各類晶元Wafer和MEMS的自動化、半自動化參數測試。廣泛用(yòng)于晶元的失效分(fēn)析測試（FA）,質(zhì)量控制測試（QA），可(kě)靠性分(fēn)析測試（RA）。其中(zhōng)S540支持高壓功率半導體(tǐ)自動化參數測試。

• 芯片設計測試平台包括：

  針對高速串行芯片設計，泰克提供完整的發送端測試解決方案，配備高帶寬實時示波器、各種探頭、一緻性測試夾具(jù)、一緻性測試軟件等，支持的标準覆蓋各類常用(yòng)标準，包括：PCIE/DDR/USB/ETH等等。

• 芯片驗證測試平台包括：

  針對高速串行芯片設計，泰克提供完整的接收端容限測試解決方案，配備高速誤碼率分(fēn)析儀，及一緻性測試夾具(jù)、一緻性測試軟件等，支持的标準覆蓋各類常用(yòng)标準。