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什麽是源測量單元 (SMU)?

源測量單元 (SMU) 可(kě)精(jīng)确地發起電(diàn)壓或電(diàn)流以及同時測量電(diàn)壓和/或電(diàn)流。它将數字萬用(yòng)表 (DMM)、電(diàn)源、實際電(diàn)流源、電(diàn)子負載和脈沖發生器的有(yǒu)用(yòng)功能(néng)以緊湊外形集成在一台緊密同步的儀器中(zhōng)。由于測量儀器具(jù)有(yǒu)多(duō)功能(néng)性和高精(jīng)度性能(néng),SMU 比這五種儀器的任意幾種儀器組合都有(yǒu)用(yòng)。

所有(yǒu)SMU應用(yòng)文(wén)檔

源測量單元 (SMU) 選擇器指南

申請演示

2470 SMU front image for product series

Keithley 2400 圖形化觸摸屏系列 SMU

  • 納米結構材料研究
  • 功率半導體(tǐ) GaN,SiC
  • 生物(wù)傳感器開發
  • 半導體(tǐ)器件設計
  • 汽車(chē)傳感器設計
2602B Front

SMU 2600B:單或雙通道系統

  • 半導體(tǐ)生産(chǎn)測試
  • 半導體(tǐ)器件設計
  • 晶體(tǐ)管檢定
  • IDDQ 測試與待機電(diàn)流測試
  • 多(duō)針裝(zhuāng)置測試
2601B-Pulse

2601B-PULSE System SourceMeter® 10 μs 脈沖發生器/SMU 儀器

  • 激光雷達 VCSEL 測試
  • 高亮度 LED 測試
  • 激光二極管生産(chǎn)測試
  • 半導體(tǐ)器件設計
Keithley 2420 SMU

Keithley 2400 标準系列 SMU

  • 電(diàn)阻/電(diàn)阻網絡生産(chǎn)測試
  • 連接器、繼電(diàn)器、開關測試
  • 加速壓力測試
  • 電(diàn)路保護裝(zhuāng)置測試
  • 材料研究

适合大功率的 SMU 2650 系列

  • 功率半導體(tǐ) GaN,SiC
  • 太陽能(néng)電(diàn)池闆測試
  • 電(diàn)遷移研究
  • 半導體(tǐ)結溫度檢定
SMU2606B

SMU 2606B:高密度 SMU

  • VCSEL,激光二極管生産(chǎn)測試
  • LED 生産(chǎn)測試
  • 晶體(tǐ)管檢定
2510 Optical SMU for Laser Diode

适合激光二極管的光學(xué) SMU

  • 光電(diàn)子器件研究
  • LIV VCSEL 測試
  • 激光二極管溫度控制

用(yòng)于源測量單元的軟件

在幾分(fēn)鍾内即可(kě)确定信号來源并予以評估,然後開發下一個應用(yòng)測試
Keithley Kickstart Main Screen

吉時利 KickStart 儀器控制軟件,适用(yòng)于台式儀器和泰克示波器

無需複雜編程,幾分(fēn)鍾内即可(kě)開始測量。執行 I-V 檢定等。

Keithley IV Tracer

Keithley I-V 記錄器軟件

熟悉的兩端器件波形記錄器用(yòng)戶體(tǐ)驗,可(kě)通過電(diàn)流和電(diàn)壓兩個方面跟蹤器件特性。

s

學(xué)習中(zhōng)心

了解從基本測量概念到關鍵工(gōng)業應用(yòng)的源測量單元 (SMU) 基本原理(lǐ),例如,如何在 2 端和 3 端設備中(zhōng)使用(yòng) SMU 獲得 IV 波形以及 SMU 如何能(néng)簡化測試設置并提高效率。
入門手冊

為(wèi)您的測試和測量應用(yòng)選擇最佳源測量單元儀器

在這份全面的白皮書中(zhōng),您将了解有(yǒu)關 SMU 儀器在測試和測量應用(yòng)中(zhōng)的真正優勢及其同時确定信号來源和測量信号的能(néng)力的更多(duō)信息。

解決方案簡介

簡化 DC-DC 轉換器檢定

DC-DC 轉換器是一種廣泛使用(yòng)的電(diàn)子元件,可(kě)在調節輸出電(diàn)壓的同時将 DC 電(diàn)源從一種電(diàn)壓電(diàn)平轉換為(wèi)另一種電(diàn)壓電(diàn)平。本解決方案簡要說明如何使用(yòng) Keithley 兩通道系列 2600B 系統SourceMeter SMU 儀器和 Tektronix 示波器簡化 DC-DC 轉換器的測試。

應用(yòng)指南

高壓半導體(tǐ)器件的擊穿和洩漏電(diàn)流測量

吉時利 (Keithley) 長(cháng)期以來一直在高功率半導體(tǐ)器件測試領域占有(yǒu)一席之地。吉時利 (Keithley) 最近推出 2470 1.1 kV 圖形化 SourceMeter® 源測量單元,以解決 SiC 和 GaN 器件測試中(zhōng)具(jù)挑戰性的測量。本應用(yòng)指南考慮這種新(xīn)的源測量單元與吉時利 (Keithley) KickStart 軟件結合用(yòng)于高壓半導體(tǐ)的應用(yòng)。

應用(yòng)指南

使用(yòng) 2601B-PULSE 系統 SourceMeter® 儀器生成幹淨的 10 µs 脈沖

輸出用(yòng)于檢定 LIDAR 或其他(tā)光電(diàn)器件的 VCSEL 的高質(zhì)量電(diàn)流脈沖帶來諸多(duō)挑戰。 閱讀本應用(yòng)指南,了解如何輕松地産(chǎn)生短至 10μs 的電(diàn)流脈沖并最大程度地降低器件自發熱。