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電(diàn)源原型版的設計的關鍵測試
電(diàn)源原型版的設計的關鍵測試
泰克讓工(gōng)程師對每次測試結果都有(yǒu)信心和把握
對于電(diàn)源設計系統的評價，測試設備是否能(néng)可(kě)靠地，準确的反應真實的信号特點是工(gōng)程師非常關注的問題，擔心某一次測試帶來誤導。
示波器是電(diàn)源設計最常用(yòng)的儀器，主要用(yòng)于進行電(diàn)源設計驗證，一般要對輸入輸出電(diàn)壓或者電(diàn)流的波形進行測試，判定其頻率，幅值或者相位是否和設計相符合。
環路響應優化
工(gōng)程師需要花(huā)很(hěn)多(duō)的時間和精(jīng)力在電(diàn)源的完整性上面（PDN），除了我們經常提到的開關損耗、輸入電(diàn)源質(zhì)量、輸出紋波測試等以外，通過環路響應測試可(kě)以知道了解我們的反饋環路的穩定性到底如何？
泰克基于示波器集成了環路響應測試功能(néng)，給開關電(diàn)源電(diàn)路注入一個頻率變化的正弦信号，測量開關電(diàn)源在頻域上的特性，需要通過分(fēn)析增益餘量和相位餘量來判斷環路是否穩定。
環路響應測試曲線(xiàn)(BODE Plot)
開關損耗測試
作(zuò)為(wèi)開關電(diàn)源做主要的器件，MOSFET和IGBT成為(wèi)影響電(diàn)源整體(tǐ)效率最主要的因素，不同的應用(yòng)中(zhōng)，驅動條件不同，功耗千差萬别，如何能(néng)量化評價在真實電(diàn)源中(zhōng)的損耗成為(wèi)非常在意的問題。
泰克MSO5系列示波器，其硬件12bit ADC高精(jīng)度測試，全新(xīn)優化的開關損耗算法，提供全套方案。可(kě)測試開點Turn-on loss ，傳導Conduction loss，閉點Turn-off loss。
開關電(diàn)壓及電(diàn)流級損耗波形
磁損耗測試
如何評價磁性器件對電(diàn)源穩定性和整體(tǐ)效率的影響？如何測試電(diàn)感，磁損，BH曲線(xiàn)，磁性屬性等指标是擺在工(gōng)程師面前的難題。泰克示波器基于其硬件12bit ADC 高精(jīng)度測量，全新(xīn)優化的磁損耗算法，提供全套方案，高達8通道支持多(duō)種變壓器類型。對于電(diàn)源産(chǎn)品設計初期要自己來繞變壓器來滿足設計，測試其不确定性，避免出現飽和炸管的情況，專用(yòng)的測試設備非常昂貴，泰克為(wèi)大家提供了一種新(xīn)的評測方法。
寬禁帶半導體(tǐ)器件GaN, SiC
第三代寬禁帶半導體(tǐ)器件GaN,SiC 出現，推動着功率電(diàn)子行業發生颠覆式的變革。新(xīn)型開關器件技(jì )能(néng)實現低開關損耗，又(yòu)能(néng)處理(lǐ)超高速的dv/dt轉換，且支持超快速的開關切換頻率，帶來的測試挑戰也成了工(gōng)程師的噩夢。
泰克推出帶寬高達1Ghz，最高2500V差模，高達120dB共模抑制比，全面光隔離探頭。結合MSO5 12bit 高精(jīng)度示波器，提供了系統優異抗幹擾能(néng)力，幫助工(gōng)程師進行第三代半導體(tǐ)器件的系統級優化設計。幫助工(gōng)程師在設計電(diàn)源産(chǎn)品時，優化上下管的驅動條件，從而保證安(ān)全的條件下降低損耗，提高轉化效率。
輸出紋波測試
電(diàn)源輸出質(zhì)量是電(diàn)源評價重要的一環，尤其對于DC輸出，不但要測試電(diàn)壓，電(diàn)流大小(xiǎo)，還要對輸出的紋波進行準确的測試，尤其對于某些特殊的電(diàn)源，紋波需要控制在很(hěn)小(xiǎo)的範圍，如何準确測試微小(xiǎo)的紋波信号非常棘手。
泰克MSO5示波器其硬件12bit ADC高精(jīng)度測試能(néng)力結合專用(yòng)的紋波探頭TPR系列探頭，最低噪聲200uV ，高達4GHz帶寬的可(kě)測試mV級微小(xiǎo)紋波，并且結合頻譜分(fēn)析功能(néng)，可(kě)以洞察紋波的信号組成。
方案配置
紋波測試方案
環路響應測試方案
