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泰克創新(xīn)論壇已連續10 餘年帶來創新(xīn)洞察,與國(guó)内外專家探讨過火星探索、AI 學(xué)習、自動駕駛等多(duō)領域。現今推出【測試為(wèi)先 向新(xīn)而行】創新(xīn)實驗室平台系列,聚焦多(duō)個行業應用(yòng),走進客戶以創新(xīn)賦能(néng),深入探究測試痛點,推動行業創新(xīn)發展。

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随着AIGC及新(xīn)能(néng)源汽車(chē)行業的迅猛發展,電(diàn)源完整性和信号完整性成為(wèi)設計的關鍵瓶頸。本次研讨會将聚焦于電(diàn)源完整性測試新(xīn)挑戰、信号完整性仿真、PCIe Tx & Rx到協議層的全套測試技(jì )術,通過案例分(fēn)享、實操演示和技(jì )術答(dá)疑的方式,為(wèi)您提供一個深入了解和掌握這些關鍵技(jì )術的平台,突破測試與仿真的難題。

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專注于PCIe、DDR、USB、DP、HDMI、CXL等高速接口在計算、存儲、多(duō)媒體(tǐ)、人工(gōng)智能(néng)、汽車(chē)等領域的創新(xīn)與測試。旨在分(fēn)享最新(xīn)技(jì )術、設計信号完整性經驗和測試經驗,提升行業信号完整性能(néng)力,推動工(gōng)程師測試能(néng)力提升,提高産(chǎn)品測試效率,促進數字行業有(yǒu)效叠代和發展。

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